256-bitowe szyfrowanie danych AES
256-bitowe szyfrowanie danych w standardzie AES, NVMe
Aluminiowa obudowa
Aluminiowa obudowa, Normy: CE, RoHS
Buforowanie SLC
Buforowanie SLC, NVMe 1.3, Bufor pamięci podręcznej DRAM
Buforowanie SLC, Zaawansowana technologia LDPC ECC
Certyfikaty: RoHS, CE, FCC
Certyfikaty: RoHS, CE, FCC, BSMI, VCCI, KC
Certyfikaty: RoHS, CE, FCC, BSMI, VCCI, KCC, Oprogramowanie: SSD Toolbox and Migration Utility
Dysk kompatybilny z serwrerami PowerEgde generacji 15 oraz serwerami rack generacji 14
Dysk serwerowy 6 Gb/s
ECC (Error Correction Code)
ECC (Error Correction Code), Buforowanie SLC
ECC (Error Correction Code), Losowa wartość IOPS (4K) zapis: 90000, Losowa wartość IOPS (4K) odczyt: 95000
ECC (Error Correction Code), NCQ - Native Command Queuing
Funkcja ECC
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.) 450 K, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.) 700 K, Interfejs dysku PCI-Express, TBW 300 TB
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.) - 1000K, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.) - 1000K
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.) 50 K, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.) 75 K
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.)- 90 K, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.)- 43 K
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 1490 K
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 360000, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.): 360000
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 480 K, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.): 550 K
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 620 K, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.): 560 K
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 80 K, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.): 60 K
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 87 K
Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 98 K
Ilość operacji zapisu IOPS (maks.): 1550, Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 1400
Losowa wartość IOPS (4K) odczyt: 40000, Losowa wartość IOPS (4K) zapis: 65000
Losowy odczyt IOPS: 40000 IOPS
Losowy zapis IOPS: 85000 IOPS, Losowy odczyt IOPS: 80000 IOPS
MINIMALNA TEMPERATURA PRACY 5 °C, MAKSYMALNA TEMPERATURA EKSPLOATACJI 95 °C
Napięcie robocze: 5 V, Bad Block Management, Obsługa TRIM, Statyczne i dynamiczne wyrównanie zużycia, Inteligentny ZIP
NCQ - Native Command Queuing
Normy: CE, RoHS, Kontroler Silicon Motion SM2256
Obsługa TRIM
Obsługa TRIM, Buforowanie SLC
Obudowa M.2 22110, Wydajność/żywotność zapisu 491 TB
Obudowa odporna na wstrząsy, Funkcja ECC, Ochrona antywibracyjna
Odczyt losowy: 95000 IOPS
Odporność na wibracje podczas pracy: 2,17G (7-800 Hz), Odporność na wibracje w stanie spoczynku: 20G (20-1000Hz), Temperatura pracy 0°C~70°C
Pamięć flash: 3D NAND, Temperatura pracy: 0°C ~ 70°C, Temperatura przechowywania: -40°C ~ 85°, Etykieta termiczna odprowadzająca ciepło
Podświetlenie RGB
Podświetlenie RGB, Ilość operacji odczytu IOPS (maks.): 210 K, Ilość operacji zapisu IOPS (maks.): 230 K
Radiator, 256-bitowe szyfrowanie AES, HMB, SLC
S.M.A.R.T.
S.M.A.R.T. (Self Monitoring Analysis and Reporting Technology), Kompatybilny z Hot plug
S.M.A.R.T. (Self Monitoring Analysis and Reporting Technology), Losowa wartość IOPS (4K) - odczyt: 37000, Losowa wartość IOPS (4K) - zapis: 68000
S.M.A.R.T., Tryb DevSleep, Bad Block Management, Obsługa TRIM, Native Command Queuing, Bufor DRAM, LDPC ECC Technology
Smart ECC, Technologia Thermal throttling
SMART, Szyfrowanie AES z 256-bitowym kluczem, Telemetria
Szybkość interfejsu dysku: 10 Gb/s
Szybkość transmisji urządzenia: 600 MBps (zewnętrzna)
Szyfrowanie sprzętowe
Szyfrowanie sprzętowe, Znak bezpieczeństwa CE, Rodzaj kości pamięci: TLC
Szyfrowanie sprzętu
Szyfrowanie XTS-AES 256
TBW (Total Bytes Written): 22000 TB, Odczyt losowy: 96000 IOPS, Zapis losowy: 42000 IOPS, Rodzaj kości pamięci: TLC
TBW (Total Bytes Written): 600 TB
TBW (Total Bytes Written): 800 TB
TBW: 100 TB
TBW: 1200 TB
TBW: 160 TB
TBW: 1752 TB
TBW: 2400 TB
TBW: 438 TB
TBW: 600 TB
TBW: 720 TB
TBW: 876 TB
Technologia SmartECC
Temperatura operacyjna: 0 - 70 C
Temperatura pracy: 0 - 70 st.C
Temperatura pracy: 0 - 70 st.C, Losowa wartość IOPS (4K) odczyt: 390000, Losowa wartość IOPS (4K) zapis: 38000, TBW: 320 TB
Temperatura pracy: 0 - 70 st.C, Losowa wartość IOPS (4K) zapis: 380000, Losowa wartość IOPS (4K) odczyt: 390000, TBW: 640 TB
Temperatura pracy: 0 - 70 st.C, Temperatura przechowywania: -45 - 85 st.C
Temperatura pracy: 0°C ~ 70°C, Temperatura przechowywania: -40°C ~ 85°, TBW- 170 GB
Test odporności na wibracje 20G
Typ dysku: wewnętrzny
Typ napędu- Wewnętrzny
Typ napędu- Wewnętrzny, TBW- 320 TB
Typ napędu- Wewnętrzny, TBW- 80 TB
Usuwanie błędu LDPC
Wibracje podczas pracy: 2,17G szczytowo (7-800Hz)
Wibracje podczas pracy: 2.17 G szczytowo (7 - 800 Hz), Wibracje w stanie spoczynku: 20 G szczytowo (10 - 2000 Hz
Wytrzymałość SSD 100 TB
Zaawansowane funkcje analizy trwałości
Zaawansowany format 512e
Zaawansowany format 512n
Zgodność z RoHS
Znak bezpieczeństwa CE
Żywotność do 5 lat
